[演講公告]半導體先進製程與檢測技術論壇

張貼者:2018年11月3日 下午6:34擎曄網站管理員   [ 已更新 2018年11月3日 下午6:35 ]

本公司受邀於「半導體先進製程與檢測技術論壇」提供演說,演講主題「三維影像量化技術於材料分析與非破壞性檢測的應用」,敬請舊雨新知不吝前來指教!

主辦單位:國立成功大學微奈米科技研究中心
舉辦地點:國立成功大學成大會館 演講廳 (台南市東區大學路2號 3F)
活動時間:11/5 日09:00至17:00

詳細議程請參見以下連結:http://gloria.ncku.edu.tw/files/14-1096-6844,r142-1.php?Lang=zh-tw
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